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設備介紹 允許進行多功能和創新的納米級熱分析 √ 精確評估薄膜和微粒的導熱系數 √ 使用三維擴散模型揭示各向異性的熱導率 √ 量化深層界面的熱邊界導熱系數 √ 在微觀尺度上可視化熱性能分析

隨著快速數據采集和數據處理技術的發展，電子顯微鏡進入了一個不僅重視數據質量，而且重視其采集過程的時代

以“更高畫質、更易于使用、更易于觀察”為理念，開發出TM4000系列

型號：DektakXTDektakXT探針式輪廓儀采用革命性的臺式設計，可實現4Å（0.4nm）的優異重復性，掃描速度可提高40%

DimensionFastScan原子力顯微鏡（AFM）系統經過專門設計，在不降低分辨率、不失去力控制、不增加設備復雜性，不帶來繁瑣操作的前提下，即可實現快速掃描

BrukerDimensionlcon”原子力顯微鏡為工業界和科研界納米領域的研究者帶來了全新的應用體驗，具有高水平的性能、功能和配件選擇，其測試功能強大，操作簡便易行